當前位置：首頁 > 產品中心 > 膜厚儀 > 全自動同質膜厚測量系統
產品分類
膜厚儀
查看全部產品
相關文章
系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術，是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的系統。
在線咨詢
電話
更新時間：2024-11-26
型號：
廠商性質：代理商
瀏覽量：2679