當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 晶圓缺陷檢測 > LAZIN > LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置
簡要描述：LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
產(chǎn)品型號：LODAS™ – BI12廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時間：2024-11-09訪 問 量： 1729產(chǎn)品分類
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列真株式會社自創(chuàng)業(yè)以來，秉承“挑戰(zhàn)"、“創(chuàng)造"、“誠實"的經(jīng)營理念，為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運用激光掃描技術(shù)，專門制造、銷售半導體材料表面及內(nèi)部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。
特征：
Glass Wafer的出貨檢查、過程評價
可同時檢查表面，背面和內(nèi)部的缺陷
用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷
檢查對象：12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
檢查項目：表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時電話對應(yīng)，全年無休的安心支持。
認真對待客戶新的要求。
召開技術(shù)研討會和充實各種手冊，讓顧客能夠自行維護和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務(wù)。
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